深圳市易捷测试技术有限公司

深圳市易捷测试技术有限公司(简称“易捷测试”,GBIT)是一家深耕半导体测试领域的技术型企业，长期专注于半导体晶圆级测试、微波射频测量系统、失效分析与封装测试设备的系统集成服务。公司自主研发的GBITEST半导体在片测试软件，为国内晶圆级测 试提供了稳定、高效且具备自主可控优势的解决方案。自成立以来，易捷测试始终以推动国产半导体测试设备的发展为使命，持续构建覆盖晶圆级在片测试、器件测量与封装测试的完整技术体系。

在技术与设备方面，公司不断引进来自美国、欧洲、日本等国家和地区的先进设备与技术，逐步形成了完善的产品体系，包括多类型高精度探针台、微波与射频测试仪器、硅光测试、X光辐照总剂量在片测试、脑面接口芯片测试、量子计算芯片测试、红外热成像器件测量、系统集成配套组件以及失效分析仪器等。围绕这些设备，易捷测试提供从测试技术咨询到系统集成方案设计、模型构建等多维度的技术服务，其中高端系统集成解决方案已成为公司的核心业务与技术优

随着半导体测试需求的不断演进，易捷测试在多种探针台在片测试集成技术方面积累了深厚经验，公司的服务项目已覆盖多项晶圆级电性能测试、包括微波射频器件测量，光学和光电器件、高功率器件等测试领 域。

在行业合作方面，易捷测试与多家国际知名半导体与精密测试品牌保持长期合作关系，包括全球领先的测量仪器制造商KEYSIGHT、先进半导体探针台系统品牌MPI、日本芯片ESD测试设备制造商HANWA,以及多家世界一流的微波组件与射频毫米波仪器厂商。

易捷测试拥有一支在半导体测试与微波射频测量领域经验丰富的工程师团队。团队在系统整合、技术创新和项目实施方面具备扎实的能力，能够根据客户的实际生产需求提供高质量的技术支持与定制化需求服务。

易捷测试始终坚持以技术为核心、以服务为导向的理念，致力于为国内半导体行业提供高端、稳定、可持续的测试系统解决方案服务。