HANWA HED-C5000R CDM测试设备

▲概述:

CDM专用测试系统，模拟生产/运输中器件充电放电，符合 JEDEC/ESDA/AEC-Q100

▲主要特点:

专利放电头，上升时间 < 200ps；±10V~±4000V；最高 256 引脚自动扫描；内置≥6GHz 高速示波器；多种失效判定方式

▲典型规格:

预充电 ±10V~±4000V；上升时间 < 200ps；峰值电流 ±30A@2000V；漏电流 1pA~100mA；1~2 秒 / 引脚

▲应用领域:

7nm/5nm/3nm 芯片 CDM 验证；车规 AEC-Q100 CDM 认证；封装 / 晶圆级 CDM 失效分析

▲技术优势：

1、符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ

2、可快速转换不同标准的测试

3、台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。

4、配备的CCD摄像机

5、提供FI-CDM和D-CDM模式。

6、可以测量每个引脚的电容。

以上为产品基础介绍

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