HANWA HED-N5000|多管脚高性能全自动静电放电测试机

▲概述:

HED-N5000 是 HANWA 高性能多管脚全自动 ESD 测试系统，集成HBM/MM/Latch-up三位一体测试，面向先进工艺与车规芯片量产级静电可靠性验证。

▲主要特点:

全模式覆盖，超大管脚容量：最高 1024 引脚全自动扫描，支持 8 器件并行测试，量产效率倍增。高精度脉冲,多功能集成,宽范围偏置

▲典型规格:

HBM (±10V~±8000V)、MM (±10V~±4000V)、Latch-up; 上升时间 < 250ps；峰值电流 ±30A；漏电流 1pA~100mA；1~2 秒 / 引脚

▲应用领域:

7nm/5nm/3nm 芯片 ESD 验证与失效分析；车规级芯片 AEC-Q100/Q101 认证；高端 CPU/GPU、AI 芯片、功率器件、SoC 量产 ESD 筛选;晶圆级 / 封装级可靠性实验室与 Fab 量产线品质管控。

▲技术优势：

1、符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC

2、无继电器 GND 模组：最高 1024Pin 无寄生电容干扰

3、智能化软件：Windows 平台，波形可视化、失效自动定位、数据追溯与报表生成。

以上为产品基础介绍

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