产品参数：
项目
| 技术参数
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X射线管
| 50W(50kV和1mA)微聚焦钨靶射线管
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探测器
| 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
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滤波器
| 4位置一次滤波器/4种规格准直器
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处理器
| 英特尔，酷睿i5 3470处理器(3.2GHz)8GB DDR3内存Windows 10，64位
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分析能力
| 5层(4层+基材)每层分析10种元素，成分分析最多可同时分25种元素
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焦距
| 激光多焦距
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视频放大倍率
| 30x:标准 45x:可选
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工作环境
| 温度在10℃~40℃之间，相对湿度小于98%，无冷凝
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数字脉冲处理
| 4096多通道数字处理器 自动死时间逃逸峰校正
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重量
| 52-70kg
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元素测量范围
| 13号铝元素至92号铂元素
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相机
| 1/4CMOS-1280x720VGA分辨率
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电源
| 150W，100~240V 频率范围为47Hz~63Hz
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尺寸(高x宽x深) Size ( high x wide x deep ) | 样品仓：140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13”) 外形：450mm(18“) x450mm(18“)x600mm(24”)
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标准可编辑XY平台
| 尺寸：380mm(15”)x 330mm(13”) 行程：125mm(5”)x150mm(6”)
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可选可编辑XY平台
| 尺寸：625mm(25”)x 625mm(25”) 行程：250mm(10”)x250mm(10”)
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领域：
P系列可满足以下类型用户的需求：
◆小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
◆需要测试多个样品的多个位置
◆期望在多个样品上实现自动化测量
◆样品尺寸和应用经常变化
◆保证符合IPC-4552A
特点：
◆P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。配备一个高精度可编程XY平台，相对固定平台，提供了多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
配置：
◆标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管，SDD探测器可选。
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